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光學(xué)低相干層析（OCT）技術(shù)詳解

1. 技術(shù)核心原理

與超聲成像的類比：如你所述，OCT 原理類似超聲成像，但超聲依賴聲波反射，而 OCT 利用光的干涉現(xiàn)象。具體來說，它通過將光源分為兩束（參考光和樣本光），樣本光經(jīng)生物組織反射后，與參考光在探測(cè)器處產(chǎn)生干涉，通過分析干涉信號(hào)的強(qiáng)度和相位，重建組織的結(jié)構(gòu)圖像。

關(guān)鍵技術(shù)支撐：

寬帶波長(zhǎng)光源：提供短相干長(zhǎng)度的光（如近紅外光），確保只有淺層和深層組織中特定深度的反射光才能與參考光產(chǎn)生有效干涉，從而實(shí)現(xiàn)高軸向分辨率（可達(dá)微米級(jí)）。

光譜儀 / 干涉儀：用于解析干涉光的光譜信息，通過傅里葉變換等算法將光譜數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為深度方向的結(jié)構(gòu)信息，快速生成二維或三維圖像。

OCT 在工業(yè)檢測(cè)中的核心價(jià)值與適配場(chǎng)景

1. 適用范圍的技術(shù)邏輯

OCT 之所以能應(yīng)用于透明 / 半透明膜層檢測(cè)，核心源于其對(duì) “光穿透深度" 和 “層間結(jié)構(gòu)分辨率" 的精準(zhǔn)控制：

透明 / 半透明材料的特殊性：這類材料（如三防漆、透明樹脂涂層、柔性 OLED 薄膜）對(duì)近紅外光的散射和吸收較弱，光可穿透表層到達(dá)內(nèi)部膜層，通過不同膜層界面的反射光干涉信號(hào)，精準(zhǔn)區(qū)分層間厚度（微米級(jí)）和內(nèi)部缺陷（如氣泡、裂紋、涂層不均）。

多行業(yè)適配案例：

電氣行業(yè)（三防漆）：檢測(cè)電路板表面三防漆的厚度均勻性、是否存在針孔或局部脫落，避免因涂層缺陷導(dǎo)致的電路短路或腐蝕。

消費(fèi)電子（手機(jī) 3D 屏、柔性 OLED）：檢測(cè)屏幕玻璃與觸控層、OLED 發(fā)光層之間的貼合精度，識(shí)別層間氣泡或剝離，確保顯示效果和耐用性。

涂層工業(yè)（透明樹脂涂層）：監(jiān)控涂層固化過程中的厚度變化，或檢測(cè)固化后是否存在內(nèi)部裂紋，保障產(chǎn)品防護(hù)性能。