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Surtronic DUO Taylor Hobson AMETEK粗糙度儀
英國泰勒SURTRONIC DUO是英國泰勒公司 新型粗糙度儀，SURTRONIC DUO新型粗糙度儀可測量多種粗糙度參數(shù)：Ra Rz Rp Rv Rt Rz1max Rsk Rq Rku; Pa Pz Pp Pv Pt（ISO 4287標準）。
英國泰勒-霍普森TAYLOR HOBSON型可分離式Surtronic Duo是一種便攜式表面粗糙度測量儀，只需按一鍵即可測量多個粗糙度參數(shù)。這些參數(shù)（如Ra、Rz、Rp、Rv和Rt）會顯示在直觀的2.4英寸 LCD彩色屏幕上。由篤摯儀器總代理的新型Surtronic DUO使用大容量充電電池，便于在所有環(huán)境和表面進行快速、輕松和的現(xiàn)場測量。
SURTRONIC DUO新型粗糙度儀通過儀器底部傳感器直接接觸被測工件進行測量，其設(shè)計可滿足不同的技術(shù)與工作環(huán)境要求。
Surtronic DUO Taylor Hobson AMETEK粗糙度儀
SURTRONIC DUO新型粗糙度儀快速測量 在儀器底端接觸工件瞬間，即可讀出測量值。全部操作步驟僅需簡單教授即可
攜帶方便 DUO粗糙度儀 可應(yīng)用于車間、實驗室的測量。也可方便置于衣服口袋中或掛在腰間。
經(jīng)外接口 操作者可在距離被測工件 1m 處操作測量。
校準方便 DUO 粗糙度儀具有自身校準標準，可預(yù)設(shè)標準值，通過 LCD 顯示出來。
測針保護 不用時，設(shè)“ park ”位置可全面保護測針。
人體工程學設(shè)計
DUO新型粗糙度儀量 程： 200um
行 程： 5mm
取樣長度： 0.8mm+/-15%
參 數(shù)： Ra ： 0.1um-40um Ra ： 0.1um-199um
精 度： Ra:0.1um Rz:0.1um
尺 寸： 125*80*38mm
檢測方式： 壓電式
DUO新型粗糙度儀重 量： 200g
Surtronic DUO Taylor Hobson AMETEK粗糙度儀
儀器特點：
快速測量在儀器底端接觸工件瞬間，即可讀出測量值。全部操作步驟僅需簡單教授即可
攜帶方便DUO可應(yīng)用于車間、實驗室的測量。也可方便置于衣服口袋中或掛在腰間。
經(jīng)外接口 操作者可在距離被測工件1m處操作測量。
校準方便DUO具有自身校準標準，可預(yù)設(shè)標準值，通過LCD顯示出來。
測針保護不用時，設(shè)“park”位置可全面保護測針。
人體工程學設(shè)計
